ผลิตภัณฑ์รายการ

GDRZ-902 Transformer SFRA Sweep Responcess Analyzer, IEC60076-18 Transformer Winding Deformation Tester

แบ่งปัน:

GDRZ-902 Transformer SFRA Sweep Responcess Analyzer, IEC60076-18 Transformer Winding Deformation Tester

GDRZ-902 Transformer SFRA Sweep Responcess Reprence Analyzer, IEC60076-18 Transformer Winding Ternation Tester เป็นเครื่องมือที่มีความแม่นยำสูงที่พัฒนาขึ้นเป็นพิเศษโดย บริษัท ของเราสำหรับหม้อแปลงไฟฟ้า (สามเฟสหรือเฟสเดียว) ความผิดและการวัดการเสียรูปที่คดเคี้ยว การทดสอบส่งมอบ

สถานะห้องว่าง:

จำนวน：



สอบถาม เพิ่มลงในตะกร้าสอบถาม

รุ่น：
GDRZ-902
ยี่ห้อ：
GOLD
รหัสสินค้า：
9030849000

คำอธิบายผลิตภัณฑ์

GDRZ-902

Transformer SFRA Sweep Response Analyzer, IEC60076-18 Transformer Winding Tester Tester Tester Tester

รายการทดสอบหลัก

1. การทดสอบการเสียรูปที่คดเคี้ยวขึ้นอยู่กับมาตรฐานที่แตกต่างกันของวิธีการกวาดความถี่;

2. มันสามารถวัดเส้นโค้งความถี่เฟสและเส้นโค้งความถี่แอมพลิจูดของแต่ละม้วนของหม้อแปลง;

3. สามารถทดสอบเฟสและแอมพลิจูดของขดลวดหม้อแปลงที่ความถี่คงที่

4. วิเคราะห์เส้นโค้งความถี่แอมพลิจูดของหม้อแปลงตาม IEC60076-18;

ข้อดี

GDRZ-902 Transformer SFRA Sweep Responcess Analyzer, IEC60076-18 Transformer Winding Deformation Tester ใช้โปรเซสเซอร์ ARM เป็นตัวควบคุมหลักสำหรับการสุ่มตัวอย่างการประมวลผลและเอาต์พุต
พบกันอย่างเต็มที่ IEC60076-18
คุณสมบัติหลักของมันคือการแสดงผลหน้าจอสัมผัสสี, พรอมต์เมนูภาษาอังกฤษ, การทำงานง่าย ๆ , พร้อมกับเครื่องพิมพ์ความร้อนความเร็วสูงออกแบบมาพร้อมกับฟังก์ชั่นการจัดเก็บสะดวกสำหรับการจัดเก็บข้อมูลและการพิมพ์
ด้วยซอฟต์แวร์การจัดการข้อมูลข้อมูลที่บันทึกจะถูกถ่ายโอนไปยังคอมพิวเตอร์ (คอมพิวเตอร์โฮสต์) ผ่าน USB สำหรับการดำเนินการจำนวนมากเช่นการบันทึกการพิมพ์การล้างหรือผ่านคอมพิวเตอร์โฮสต์โดยตรงเพื่อดำเนินการทดสอบรูปแบบไฟล์ที่บันทึกไว้คือคำหรือ รูปแบบไฟล์ Excel
เครื่องมือนี้มีขนาดเล็กน้ำหนักเบาง่ายต่อการพกพาและสะดวกมากในการใช้งานในสถานที่ลดความเข้มแรงงานของผู้ทดสอบและปรับปรุงประสิทธิภาพการทำงานอย่างมาก
หน่วยความจำที่ไม่ใช่การเลื่อนในตัวสามารถบันทึกการเสียรูปที่คดเคี้ยวได้สำหรับ 40 กลุ่ม

ดัชนีทางเทคนิค

วิธีการกวาดความถี่ในการวัดการเสียรูปที่คดเคี้ยว
ช่วงความถี่สแกน	10Hz-1MHz (DLT911-2016 0.5kHz ช่วงการสแกนเชิงเส้น) 20Hz-2MHz (GB/T-1094.18 IEC60076-18: 2012 การสแกนแบบแบ่งส่วน) 10Hz-10MHz (GB/T-1094.18 IEC60076-18: 2012 การสแกนแบบแบ่งส่วน) 1KHz -1000KHz_1.0 (สแกนเชิงเส้น 1KHz ด้านข้างพีซีมีอยู่ด้านข้าง) 1KHz -1000KHZ_0.5 (การสแกนเชิงเส้น 0.5KHz ช่วงเวลา Avaiable สำหรับพีซี) 1KHz -2000KHZ_1.0 (การสแกนเชิงเส้น 1KHz ช่วงเวลาสำหรับพีซี) 1KHz -2000KHZ_0.5 (การสแกนเชิงเส้น 0.5KHz ช่วงเวลาสำหรับพีซี) 100Hz-1000K (มีการแบ่งเซกเมนต์พีซี 1441 คะแนน): 100Hz-1kHz 5Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 1KHz-10kHz 50Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 10kHz-100kHz 500Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 100KHz-1000KHz 1kHz ช่วงเวลา 901 คะแนน 100Hz-2000K (มีการแบ่งเซกเมนต์พีซี 2441 คะแนน): 100Hz-1kHz 5Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 1KHz-10kHz 50Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 10kHz-100kHz 500Hz ช่วงเวลา 180 คะแนน 100KHz-1000KHz 1kHz ช่วงเวลา 900 คะแนน 1,000khz-2000khz 1kHz ช่วงเวลา 1001 คะแนน
ช่วงการวัดแอมพลิจูด	(-100db) - (+20dB)
ความแม่นยำในการวัดแอมพลิจูด	(-40dB) - (+20dB) 0.2dB (-60db)-(-40db) 0.5dB (-80dB)-(-60db) 1.0db
ช่วงการวัดมุม	(-180 °)-(+180 °) (10Hz-2MHz)
ความแม่นยำในการสแกนความถี่	น้อยกว่า 0.01%
อิมพีแดนซ์อินพุตสัญญาณ	มากกว่า 1m Ω (DLT911-2016) 50 Ω (GB/T-1094.18 IEC60076-18: 2012)
ความต้านทานสัญญาณเอาต์พุต	50 Ω
อัตราการทดสอบซ้ำระยะเดียวกัน	99.5%
แหล่งจ่ายไฟ	220V ± 10%, 50/60Hz (สนับสนุนการปรับแต่ง)
น้ำหนักสุทธิ	น้อยกว่า 10 กิโลกรัม